Имеют ли психиатрические расстройства общие биологические механизмы?

Заболевания мозга, такие как аутизм, шизофрения, болезнь Альцгеймера и эпилепсия, имеют сложные генетические корни. До сих пор учёные выявили как частые, так и редкие генетические вариации, связанные с этими расстройствами. Однако биологические процессы, на которые влияют оба типа вариаций, оставались плохо изученными.

Новый подход позволил прояснить эти механизмы, проанализировав экспрессию генов в 933 образцах мозга, полученных посмертно. Исследователи обнаружили, что, несмотря на часто различные наборы генов риска в исследованиях частых и редких вариаций, гены, экспрессия которых координируется с этими генами риска, значительно пересекаются. Эти конвергентные гены демонстрируют сильное влияние на наследственность заболеваний, как для частых, так и для редких вариаций.

Исследование также показывает, что эти гены обладают важными общими характеристиками: они более чувствительны к мутациям и чаще становятся мишенями существующих лекарственных препаратов. Это позволяет предположить, что они могут играть ключевую роль в разработке новых терапевтических методов. Кроме того, они участвуют в важных биологических процессах, таких как коммуникация между нейронами или иммунный ответ, которые нарушаются при различных психиатрических расстройствах.

Наконец, это исследование выделяет специфические типы клеток мозга, такие как астроциты и глутаматергические нейроны, которые, по-видимому, особенно подвержены воздействию. Эти результаты открывают путь к лучшему пониманию механизмов, лежащих в основе заболеваний мозга, и могут помочь в определении новых терапевтических мишеней.

Sources du média

Document de référence

DOI : https://doi.org/10.1038/s41380-026-03571-x

Titre : Convergent coexpression reveals shared biological mechanisms underlying common and rare variant risk in six neuropsychiatric disorders

Revue : Molecular Psychiatry

Éditeur : Springer Science and Business Media LLC

Auteurs : Hanna Abe; Calwing Liao; Lide Han; Theodore Morley; Michael E. Talkowski; Kristen J. Brennand; Douglas M. Ruderfer