Os transtornos psiquiátricos compartilham mecanismos biológicos comuns?
Doenças cerebrais como autismo, esquizofrenia, doença de Alzheimer ou epilepsia têm origens genéticas complexas. Até agora, os cientistas identificaram variações genéticas, tanto frequentes quanto raras, associadas a esses transtornos. No entanto, os processos biológicos comuns influenciados por esses dois tipos de variações permaneciam mal compreendidos.
Uma nova abordagem permitiu esclarecer esses mecanismos ao analisar a expressão dos genes em 933 amostras de cérebro post-mortem. Os pesquisadores descobriram que, apesar de conjuntos de genes de risco frequentemente distintos entre os estudos sobre variações frequentes e raras, os genes que se expressam de maneira coordenada com esses genes de risco se sobrepõem significativamente. Esses genes convergentes mostram forte envolvimento na hereditariedade das doenças, tanto para variações frequentes quanto raras.
O estudo revela também que esses genes compartilham características importantes: são mais sensíveis a mutações e mais frequentemente alvos de medicamentos existentes. Isso sugere que eles poderiam desempenhar um papel-chave no desenvolvimento de novas terapias. Além disso, estão envolvidos em processos biológicos essenciais, como a comunicação entre neurônios ou a resposta imunológica, que são perturbados em vários transtornos psiquiátricos.
Por fim, esta pesquisa destaca tipos específicos de células cerebrais, como astrócitos e neurônios glutamatérgicos, que parecem particularmente afetados. Esses resultados abrem caminho para uma melhor compreensão dos mecanismos subjacentes às doenças cerebrais e poderiam ajudar a identificar novos alvos terapêuticos.
Sources du média
Document de référence
DOI : https://doi.org/10.1038/s41380-026-03571-x
Titre : Convergent coexpression reveals shared biological mechanisms underlying common and rare variant risk in six neuropsychiatric disorders
Revue : Molecular Psychiatry
Éditeur : Springer Science and Business Media LLC
Auteurs : Hanna Abe; Calwing Liao; Lide Han; Theodore Morley; Michael E. Talkowski; Kristen J. Brennand; Douglas M. Ruderfer